L’ENEA ha organizzato ieri un OPEN DAY del Centro Ricerche di Portici (Na) per far conoscere le attività che si svolgono nei propri laboratori agli ingegneri dell’Ordine di Napoli, con l’obiettivo di contribuire al loro aggiornamento professionale, promuovendo il trasferimento tecnologico e la valorizzazione delle eccellenze presenti sul territorio. La visita ai laboratori e impianti è stata introdotta dagli interventi di Francesco Montesanto – Direttore del Centro Ricerche Portici dell’ENEA, Luigi Vinci – Presidente Ordine degli Ingegneri della Provincia di Napoli, Ezio Terzini – Direttore dell’Unita Tecnica Tecnologie Portici (UTTP), Giovanni Manco – Consigliere dell’Ordine Ingegneri della Provincia di Napoli, a cui hanno fatto seguito le presentazione dei ricercatori ENEA sulle principali attività del Centro.
Presso il Centro di Portici l’ENEA agli inizi degli anni ’80 aveva concentrato le principali attività di ricerca e sviluppo sul fotovoltaico e sulle sue applicazioni più innovative; in questo modo, il Centro ha potuto di dotarsi di impianti e attrezzature di eccellenza e di sviluppare ampie competenze in questo settore, acquisendo oggi una posizione di primo piano nel campo della ricerca e della tecnologia dei film sottili a base inorganica e organica. Attualmente le attività riguardano le applicazioni più diversificate dei film sottili e dei materiali nano-strutturati, come il fotovoltaico di terza generazione, il fotovoltaico organico, gli OLED, la sensoristica, i rivestimenti speciali per il solare termodinamico, il grafene, ecc., nonché studi sulle smart grid e su tematiche ambientali per gli aspetti chimici e tossicologici per gli ecosistemi.
Nel corso della manifestazione il Centro di Portici e l’Ordine degli Ingegneri della Provincia di Napoli hanno deciso di istituire una collaborazione per avviare attività di formazione e stage per gli iscritti all’Ordine.
Il Centro di Portici, presso il quale lavorano circa 150 dipendenti, è situato nel Golfo di Napoli e si estende su una superficie di 27.000 m2.
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